更改

跳转至: 导航搜索

NBDK-L4:基础实验教程

添加745字节2019年1月23日 (三) 10:19
无编辑摘要
=== STM32L476 ADC简介 ===
STM32L476一共有3个ADC(ADC1、ADC2、ADC3),3个ADC都可以进行独立的工作,每个ADC都支持12位精度的采样。
 
每个ADC最多有19个多路复用的通道,每个通道的AD转换都是可以执行单一、连续扫描或者不连续扫描的。
 
ADC的参考电压取决于VREF+引脚的输入电压,在开发板上,我们接好miniUSB供电,此引脚电压范围在3.2V~3.3V之间,代码中我们默认取3.3V为参考电压。
 
ADC引脚的输入电压范围:VREF- ≤ VIN ≤ VREF+ ,在开发板上,就是大于0V,小于3.3V。
 
在这个例程中,我们将以ADC1的通道16(也就是PB1引脚)来采集光敏二极管的输出电压。
=== 硬件设计 ===
=== 实验准备 ===
# 使用miniUSB线及10pin排线,通过Jlink仿真器连接PC端和开发板。
# 使用miniUSB线,连接PC与开发板USB接口。
# 将SW1拨到DBG端,SW2拨到MCU。
# 使用Keil打开基础实验 05-光敏二极管实验工程。
510
个编辑

本PDF由谷雨文档中心自动生成,点击下方链接阅读最新内容。

取自“http://doc.iotxx.com/特殊:移动版差异/1351

导航菜单